掃描電鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種重要的表面分析和成像儀器，廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術等領域。相較于其他顯微鏡類型，如透射式電子顯微鏡(TEM),掃描電鏡具有更高的分辨率和對樣品表面形貌的實時觀察能力。本文將介紹桌面型掃描電鏡的基本原理以及其在不同領域的實際應用。

一、掃描電鏡的基本原理

1. 產(chǎn)生電子束：掃描電鏡通過向樣品表面發(fā)射電子束來形成一幅圖像。電子束經(jīng)過樣品表面時會發(fā)生散射、反射和折射等現(xiàn)象，從而在探測器上形成一系列光點。這些光點的分布和強度反映了樣品表面的形貌特征。

2. 探測器和數(shù)字信號處理：掃描電鏡通常采用能夠檢測到非常低能量電子的硅探測器。當電子束與樣品表面相互作用時，部分電子會被吸收或散射，剩余的電子會繼續(xù)前進并被探測器捕捉。通過測量探測器上的光強度和位置信息，可以重建出電子束在樣品表面上行進時所經(jīng)歷的各種情況。*后，這些數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)字信號處理后轉化為可見的圖像。

二、桌面型掃描電鏡的應用領域

1. 材料科學：掃描電鏡在材料科學領域具有廣泛的應用，如材料結構表征、晶體生長過程研究、缺陷分析等。通過觀察樣品表面的形貌和微結構特征，可以了解到材料的物理性質和化學成分等方面的信息。

2. 生物學：掃描電鏡可用于細胞、組織和生物分子結構的觀察。例如，可以用來研究細胞膜的形態(tài)和功能、病毒的結構、蛋白質復合物的形成等。此外，還可以進行活細胞成像、藥物篩選等研究工作。