SEM掃描電鏡是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)。SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。

 從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

①觀察納米材料

 所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi)，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶體、非晶態(tài)不同的、獨特的物理化學(xué)性質(zhì)。納米材料有著廣闊的發(fā)展前景，將成為未來材料研究的重點方向。掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率。現(xiàn)已廣泛用于觀察納米材料。

②材料斷口的分析

掃描電鏡的另一個重要特點是景深大，圖象立體感強。掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學(xué)顯微鏡大幾百倍。由于圖象景深大，所以掃描電子象立體感強，具有三維形態(tài)，能夠提供比其他顯微鏡更多信息，這個特點對使用者很有價值。SEM掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。

③直接觀察原始表面

它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，使制備樣品更簡單，而且能真實觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度

④觀察厚試樣

其在觀察厚試樣時，能得到高的分辨率和真實的形貌。SEM掃描電鏡的分辨率介于光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，但在對厚塊試樣的觀察進行比較時，因為在透射電子顯微鏡中還要采用復(fù)膜方法，而復(fù)膜的分辨率通常只能達到10nm，且觀察的不是試樣本身。因此，用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利，更能得到真實的試樣表面資料。

⑤觀察各個區(qū)域的細節(jié)

試樣在樣品室中可動的范圍非常大，其他顯微鏡的工作距離通常只有2-3cm，所以實際上只許可試樣在兩度空間內(nèi)運動，但在掃描電鏡中則不同。由于工作距離大。焦深大。樣品室的空間也大。因此，可以讓試樣在三度空間內(nèi)有6個自由度運動。

上面內(nèi)容就是介紹的掃描電鏡主要用來觀察幾個方向，更多關(guān)于掃描電鏡的問題歡迎撥打網(wǎng)站上面的電話咨詢哦